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                    介電常數及介質損耗測量方法介紹

                    更新時間:2025-06-28      點擊次數:112

                    1、傳輸線法

                    傳輸線法測量是(介電值)和(磁導率)主流測量方法,可在范圍頻率內的設定任意頻率點上進行測量。輸線法需要將材料置于一部分封閉的傳輸線內部,其線路是使用一段矩形波導或同軸空氣線,根據反射信號(S11)和傳輸信號(S21)的測量結果計算得出。

                    傳輸線要求,樣品填充到治具橫截面中,治具壁沒有空隙,表面平坦光滑,與長軸垂直均勻介質。

                    碳纖維、吸波材等材料在雷達、航天等做吸收或是屏蔽電波,多采用此方法。

                    1.1同軸法

                    測試范圍:100M~18G

                    樣品要求:環狀,材料需加工;表面光滑,并且兩個端面與傳輸線的軸線垂直;樣品長度和測試頻率相關,其量測精準度與樣品工藝息息相關。

                    方案配置:網分+同軸夾具+軟件+TRL校準件


                    圖1WR同軸方案夾具.jpg

                     圖1WR同軸方案夾具

                    1.2波導法

                    測試范圍:100M~110G(頻率分段)

                    樣品要求:矩形塊狀,材料需加工;表面光滑,并且兩個端面與傳輸線的軸線垂直;測試頻率與規范要求相關。頻率越高,樣品越小,尺寸要求更精細,量測精準度很大程度取決于樣品制作工藝。

                    方案配置:網分+波導夾具+軟件+OSL校準件。

                    使用新一代的波導夾具可易于做校正,避免漏波使數據更精準。

                    下圖是波導夾具:


                    圖2WR波導夾具.jpg

                    圖2WR波導夾具

                    2、共振法

                    共振法優點是,相對眾多量測方式有較高的值,非常適合用于(lowDf)低損耗的材料驗證與開發,如PCB板前沿材料、(CCL)覆銅板的介電基材,PP玻璃纖維,樹酯,氟系材料。聚酰亞胺(PI)等。

                    測量方法:是將一片材料樣品插入到腔體中,會改變腔體的共振頻率(f)和品質因子(Q)。根據這些測得的參數,可以計算出材料在某一頻率上的復數介電常數。典型的測量系統由網絡分析儀、共振腔體治具以及計算軟件組成。

                    共振腔法也有許多不同的子方法和治具類型:分離式圓柱諧振腔(Split Cavity Resonator)、分離柱電介質諧振腔(Split Post Dielectric Resonator)和于共振法開發的液態,粉態與固態測試夾具,以下介紹三種共振腔。

                    2.1分裂圓柱諧振器

                    SCR(Split Cylinder Resonant)分裂圓柱共振器是分成兩半的柱狀共振腔體。

                    樣品夾入到兩個半柱的中間。一個半柱是固定的,另一個是可調節的,來適應不同厚度的樣品。根據樣品厚度、柱長以及分裂圓柱共振器在空載和載入樣品兩種條件下的S參數測量結果,可以計算出介電常數和損耗正切或、。

                    優點:

                    1、SCR10GHz可提供值24000,可達10的負6次方的辨識度與穩定度;

                    2、一顆SCR10GHz提供多頻率點量測;

                    3、可進行TCDK-50~+150度高低溫量測;

                    4、測試軟件可搭配進口或是國產網絡分析儀。

                    規范:IPC TM650 2.5.5.13

                    測試范圍:10GHz-84GHz共七種。

                    值:24000。

                    量測溫度范圍:-50~+150℃。

                    樣品要求:薄膜,片狀,樣品厚度與量測頻率相關。

                    適合應用:TCDK,產品開發。

                    圖3SCR10G搭配R_SZNB方案.jpg

                    圖3SCR10G搭配R&SZNB網絡分析儀方案

                    圖4WRSCR84G搭配是德110GHz.jpg

                    圖4WRSCR84G搭配是德110GHz 網絡分析儀

                    SCR用于TCDK變溫測量:

                    因使用環境溫度與高速環境下,溫度已被列為設計方量測參考因素之一。SCR搭配變溫箱與程控軟件實現-50度~+150度變溫量測。如左下圖,全自動量測,省時省力,數據穩定度與再現性高符合趨勢如右下圖:

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                     圖5 TCDK方案框架

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                     圖6 TCDK方案數據

                    2.2分離介質共振器

                    SPDR(Split Post Dielectric Resonator)分離介質共振器采用低損耗介電材料構建,上下有兩個圓柱陶瓷材質與工藝,決定量測頻率于量測精度。其值穩定度不亞于SCR腔體。

                    SPDR方案操作簡單,是市場上常見的方案,但因為結構問題,維護成本相比于SCR要高。

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                    規范:IPC TM650 2.5.5.15

                    測試范圍:1GHz~20GHz單點頻率。

                    Q值:12000

                    測量溫度范圍:室溫

                    樣品要求:薄膜,片狀,樣品厚度與平整度影響準確度

                    應用行業:PCB進料檢驗,玻璃纖維行業在玻璃/玻纖布、測量碳纖維布,

                    其他:WR SPDR腔體可提供維修與每年校驗。

                    2.3液體/粉末與陶瓷介電材料測量夾具

                    因應AI時代高速產品對于產品開發需求,WR開發適合于前沿材料液體/粉末型態樣品測試夾具,產品簡稱PLS100。可精準還原材料的介質損耗其分辨率可達1x。

                    有別于他牌探頭型測試方案,PLS100采用諧振法使用空氣為介質進行空腔校正。封閉型腔體測試可避免反射/干涉頻率影響,對于量測有著高辨識度,數據再現性高,精度可達3%。。


                    圖-7-PLS100以空氣為介質進行空腔量測數據.jpg

                     圖 7 PLS100以空氣為介質進行空腔量測數據

                    圖-8-PLS100實物.jpg

                    圖 8 PLS100實物

                    測試范圍:5GHz~14GHz單點頻率。

                    Q值:10000

                    測量溫度范圍:室溫

                    樣品要求:液體/粉末

                    應用行業:覆銅板的樹酯,伺服器冷卻液,玻璃纖維粉末

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