硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz，適用于慢/快速變化測試信號，可與本公司HF10精密陣列衰減器擴展配合使用，拓寬羅氏線圈倍率，HF10也可與各式示波器探頭配合使用。RS系列羅氏線圈，適用頻帶廣泛，所采樣波形不畸變，適合未知源的采樣和還原；盲測。與國外線圈每一個型號只能測試一種波形相比，RS系列的性價比更高，采樣的雷電波不受波形多變的影響，可信度更高

產品分類CLASSIFICATION

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詳細介紹

品牌	其他品牌	產地類別	國產
應用領域	能源,電子,航天,汽車,電氣

一、硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz產品概述

優測羅氏線圈RS-28-150KA具有高性價比、頻帶廣泛、不失真不變形的特點，可與各式示波器配合使用，也可與本公司HF10精密陣列衰減器擴展配合使用，拓寬羅氏線圈倍率。

LS-N-1000優測羅氏線圈副圖800-2.jpg

二、硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz技術參數

三、設備連接

連接示意圖.jpg

1.將被測導線穿入羅氏線圈中心孔。

2.連接阻抗匹配器，也可不裝，不影響測試結果。

3.將BNC測試線將線圈與示波器連接一體。

四、產品應用

SiC MOSFET 的浪涌可靠性測試研究：浪涌可靠性是器件可靠性指標的一種，是指MOSFET承受浪涌電流的能力。浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現異常情況下產生的遠大于穩態電流的峰值電流或過載電流。

由于電容電感等非線性器件的充放電，很多電子電路在工作中會產生浪涌電流，尤其是在電路開啟的瞬間，而浪涌電流會對器件本身造成損傷，最終影響電路的正常工作，因此用戶在進行電路設計選擇器件之前，需要知道器件可承受的浪涌電流峰值，并依此設計電路參數使器件盡可能工作在安全區域。

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